改进的 QSS-μPCD 测量与衰减控制质量：与稳态载流子寿命的相关性

过量载流子光电导衰减寿命是在稳态发电施加的小扰动条件下测量的，为准稳态光电导 QSSPC 提供了一种有吸引力且无参数的替代方案。 该技术的最新版本称为 QSS-μPCD，基于微波反射 PCD 监测。 对于这项技术，在大范围的稳态光强度内保持单指数衰减至关重要。 为了实现这一目标，我们推出了具有严格的衰变质量控制 (QDC) 的 QSS-μPCD。 衰减参数 QD（理想情况下 QD=1）的质量测量偏离理想指数瞬态的方向和幅度，并能够调整实验变量的最佳范围（取决于设备和晶圆），其中 QD 在 1±Δ 范围内，其中 Δ 定义 QDC 限制。 在 QDC 限制内，小扰动有效衰变寿命 τ_eff.d 能够准确确定重要的硅光伏参数，最多约 25 个太阳，包括 J₀ 和稳态 生命周期，τ_eff.ss。 比较两个 J₀ 过程。 Basore 和 Hansen (1990) 采用的巧妙的分析程序[2]能够直接测定J₀。 第二个 J₀ 过程使用 τ_eff.d 对照明强度的积分。 结果是自洽的，并且与 Sinton QSSPC 结果具有良好的相关性。