通过校正晶圆边缘和补偿结泄漏，改进结光电压测量的薄层电阻的高分辨率映射

发布到: 6-9 May 2007 at INSIGHT 2007 Conference, Napa Valley, USA

年: 2007

作者: E. Don, C. Kohn, A. Pap, P. Tüttő, T. Pavelka, C. Laviron, C. Wyon, R. Oechsner, M. Pfeffer

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