联系我们获取详情与报价
获取专家建议，为您研发需求量身定制解决方案
介绍了一种快速、非破坏性、非接触式、免制备的测量方法，能够区分硼和镓掺杂的光伏硅块状原料（块状、锭状或不规则形状的材料块）。 该方法由高注入少数载流子寿命测量和高强度激光治疗组成。 微波光电导衰减方法被用作高注入载流子寿命测量。硼或镓掺杂剂种类可以根据所应用的激光处理序列引起的载流子寿命变化的极性来确定。 所有掺硼样品都显示出负载流子寿命变化，而激光处理则增加了大多数掺镓样品的寿命。 硼掺杂硅的负寿命变化是由硼氧LID缺陷的形成引起的。 研究发现，铁受体对的解离是镓掺杂样品寿命增加的原因。详细讨论了激光处理引起的寿命变化的动态，发现铁镓对的光学解离比铁硼对的情况慢得多，而光诱导降解则显示出预期的动态。关键词：镓掺杂，光诱导降解，铁受体对，载流子寿命