2025年9月17日
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Semilabは、マテリアルサイエンスおよびライフサイエンスの研究開発向けに高精度な特性評価ツールを提供し、ナノテクノロジーからバイオメディカルアプリケーションまでのイノベーションを支援します。
Semilabは、強力な科学的バックグラウンドを持ち、半導体、太陽光発電、フラットパネルディスプレイ産業、薄膜研究、材料科学、および関連する科学分野における研究開発アプリケーション向けにカスタマイズされたソリューションを開発するために、学術顧客との優れた協力の長い歴史を持っています。
マテリアルサイエンス
半導体・材料研究向けの高精度な電気抵抗率測定を実現するコンパクトなラボグレードツール
非接触・高感度マッピング
先進的な不純物特性評価ツール
高精度な薄膜分析
高精度なテクスチャおよびトポグラフィマッピング
ライフサイエンス
インタビュー、ヒント、ガイド、業界のベストプラクティス、ニュース
最新の出版物をお読みください
著者: András Bojtor, Dávid Krisztián, Gábor Paráda, Ferenc Korsós, Sándor Kollarics, Gábor Csősz, Bence G. Márkus, László Forró, Ferenc Simon
トピック: Carrier generation & recombination; Metrology; Optoelectronics; Photoconductivity; Radio frequency techniques; Devices; Semiconductors; Microwave techniques
著者: Laszlo Makai, Csaba Balogh, Peter Basa, Jonas Haunschild
トピック: Ellipsometry; Photovoltaics; Monocrystalline textured; TOPCon
著者: Oleg Rusch, Julien Körfer, Boglárka Dikó, Zsófia Kiss, Attila Sütő, Emeric Balogh
トピック: trench MOSFET; OCD; critical dimension metrology; ellipsometry; reflectometry
