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本論文は、実用面を特に重視した太陽光発電分野におけるマイクロ波検出光伝導度減衰法（µ-PCD）の可能性の概要を提供します。原料から、インゴット、ブロック、アズカットウェーハ、加工済みウェーハ、そして完成セルに至るまで、製造プロセス全体にわたる応用を追跡します。薄膜太陽電池の調査に対する本技術の将来的な可能性についても取り上げます。キャリアライフタイム測定における主要な課題、すなわち表面再結合の役割と鉄汚染の個別検出について詳細に議論します。関連する場合には、標準的なマイクロエレクトロニクス半導体用途との比較を提供します。実験室での使用に加えて、インラインツールとしての製造環境への導入についても記述します。