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本論文は、実用面に特に重点を置き、太陽光発電分野におけるマイクロ波検出光伝導度減衰法（µ-PCD）の可能性について概観する。原料からインゴット、ブロック、切断直後のウェーハ、加工済みウェーハ、そして完成セルに至る製造プロセス全体を通じたアプリケーションを追跡する。薄膜太陽電池研究に対する本技術の将来的な展望についても取り上げる。キャリアライフタイム測定における重要な課題、すなわち表面再結合の役割および鉄汚染の個別検出について詳細に議論する。関連する場合には、標準的なマイクロエレクトロニクス半導体アプリケーションとの比較も行う。ラボでの使用に加え、インラインツールとしての製造環境への実装についても記述する。