µ-PCDとSPV技術の複合適用による再結合センターパラメータの決定

掲載誌: Proceedings of the Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials and Devices, 1999 Joint Int. Meeting, 196)

年: 1999

著者: T. Pavelka, A. Tóth, G. Bayer

recombination centerMicrowave Photoconductive Decay (μ-PCD)surface photovoltage

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