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p型シリコン中の鉄-ボロンペアの光解離は、ライフタイムキラーとなる格子間鉄を生成し、非接触表面光起電力（SPV）による少数キャリア拡散長測定と組み合わせることで鉄の高速検出を実現できる。鉄濃度が8×108～1×1013 atoms/cm3の範囲において、白色光（10 W/cm2）を用いたペア解離が15秒以内に完了することを見出した。表面再結合が主要な律速要因であった。表面のパッシベーションにより速度が最大20倍向上した。光解離速度は温度上昇とともに増加したが、その増加は熱解離速度の増加よりも小さかった。これらの特性は、以前に提案された再結合促進解離機構と一致する。実用的な鉄検出において、このアプローチの検出限界がppq（1兆分の1）に近いことが重要である。