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ディープトレンチを有する0.18 μmパワー半導体デバイスにおける転位発生のマイクロフォトルミネッセンスイメージング
掲載誌:
ASMC 2018 Annual Conference
年:
2018
著者:
L. Jastrzebski, G. Nadudvari, D. T. Cseh, L. Roszol, G. Molnar, I. Lajtos
Micro-Photoluminescence Imaging
Dislocation Generation
Semiconductor Devices
Deep Trenches
Wafer Fabrication
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