シリコンPV向け統一ライフタイム測定

本研究では、太陽電池製造で最も頻繁に使用される2つのライフタイム、すなわち過剰キャリア減衰ライフタイムτ_eff.dと準定常状態実効ライフタイムτ_effのパラメータフリーかつ自己無撞着な決定を可能にする統一ライフタイム測定アプローチを報告します。このアプローチは、準定常状態マイクロ波検出光伝導度減衰（QSS-μPCD）技術を使用し、25 sunsまでの定常状態キャリア励起に小信号摂動レーザーパルス励起を重畳します。減衰品質制御（QDC）は、信頼性の高いτ_eff.d測定に不可欠な新しい要素です。QDCにより、実質的に理想的な単一指数関数減衰条件を実現するための実験条件の精密調整が可能となります。τ_eff.dの照明特性が決定されると、Schuurmansら（1997）の積分手順を使用して対応する定常状態実効ライフタイムτ_effが決定されます。結果はQSSPCと非常に良い相関を示しています。τ_eff.dの測定も積分もウェーハパラメータを必要としないため、両ライフタイムの決定は「パラメータフリー」手法と見なされます。