실리콘 PV의 통합 수명 측정

우리는 태양 전지 제조에서 가장 자주 사용되는 두 가지 수명(즉, 과잉 캐리어 감쇠 수명 τ_eff.d 및 준 정상 상태 유효 수명 τ_eff)을 파라미터 없이 일관되게 결정할 수 있는 통합 수명 측정 접근 방식을 제시합니다. 이 접근 방식은 준정상상태 마이크로파 감지 광전도 감쇠(QSS-μPCD) 기술을 사용하여 작은 섭동 레이저 펄스 여기가 최대 25 sun까지 정상 상태 캐리어 여기에 부과됩니다. 감쇠 제어 품질(QDC)은 τ_eff.d의 안정적인 측정에 중요한 새로운 요소입니다. 이를 통해 실험 조건을 정밀하게 조정하여 실질적으로 이상적인 단일 지수 감쇠 조건을 달성할 수 있습니다. τ_eff.d의 조명 특성이 결정되면 Schuurmans et.al의 통합 절차가 수행됩니다. (1997)은 해당 정상상태 유효 수명 τ_eff를 결정하는 데 사용됩니다. 결과는 QSSPC와 매우 잘 상관관계를 보입니다. τ_eff.d의 측정이나 통합에는 웨이퍼 파라미터값이 필요하지 않으므로 두 수명의 결정은 "파라미터 없는" 방법으로 간주됩니다.