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用於矽光電的先進界面陷阱計量

發表於: 28th European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition

年: 2013

作者: J. D'Amico, M. Wilson, C. Almeida, J. Lagowski, S. Olibet

CharacterisationInterfacepassivationrecombinationSilicon Nitride