2025年9月17日
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材料科學
緊湊的實驗室級工具，用於半導體和材料研究中的精確電阻率測量
非接觸式高靈敏度測繪
先進的雜質表徵工具
準確的薄膜分析
精確紋理和地形映射
生命科學
專家訪談、實用技巧、指南、業界最佳實務及最新消息
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作者: András Bojtor, Dávid Krisztián, Gábor Paráda, Ferenc Korsós, Sándor Kollarics, Gábor Csősz, Bence G. Márkus, László Forró, Ferenc Simon
主題: Carrier generation & recombination; Metrology; Optoelectronics; Photoconductivity; Radio frequency techniques; Devices; Semiconductors; Microwave techniques
作者: Laszlo Makai, Csaba Balogh, Peter Basa, Jonas Haunschild
主題: Ellipsometry; Photovoltaics; Monocrystalline textured; TOPCon
作者: Oleg Rusch, Julien Körfer, Boglárka Dikó, Zsófia Kiss, Attila Sütő, Emeric Balogh
主題: trench MOSFET; OCD; critical dimension metrology; ellipsometry; reflectometry
