適用於廣泛半導體材料之多功能光電導衰減量測系統

時間解析光電導技術（Time-resolved photoconductivity, TRPC）已被廣泛應用於分析表徵多種半導體材料中的非平衡載子壽命、雜質含量以及太陽能電池效率。然而，現下大多數的量測仍侷限於偵測單一頻率的電磁輻射反射，且僅能支援單一光激發波長。本研究提出一種新型的時間解析光電導儀器，其能實現寬頻段頻率偵測（範圍本質上涵蓋直流直到 20 GHz）、變溫量測，並支援多種激發光子能量。此量測架構是藉由共面導波管來實現，該導波管可充當高效天線，且其性能已在10 MHz 至10 GHz 的頻段內得到驗證。本儀器將可有效投入於表面與基體特定電荷複合機制之深度研究。