Research & Development Solutions
產品與解決方案
知識庫
聯絡我們
Semilab Global
搜尋
🇨🇳
ZH
歡迎洽詢產品資訊與報價
針對您的研究需求,提供專業諮詢與客製化解決方案
聯絡我們
微電暈-開爾文技術在高k MOS電容器非接觸監測的應用
發表於:
Meeting Abstracts - The Electrochemical Society
年:
2008
作者:
Anton Belyaev, Marshall Wilson, Jacek Lagowski, Lubek Jastrzebski, Andrew Findlay, J Price, CS Park, Muhammad M Hussain, G Bersuker, PS Lysaght
Corona-Kelvin Metrology
Dielectrics
Non-Contact Measurement
閱讀文獻