超越中孔/大孔邊界：透過客製化吸附劑擴展薄膜中基於毛細管冷凝的孔徑表徵

含有直徑超過 50 nm 奈米孔的薄膜的表徵提出了重大挑戰，特別是在部署基於吸附的技術時。 由於樣品製備和無損檢測的限制，傳統的體積物理吸附或壓汞方法在薄膜中的適用性有限。在這種情況下，橢圓孔隙度測定法利用其對薄膜的光學敏感性，代表了一種可行的替代方法。 對於依賴諸如水的揮發性化合物的毛細管冷凝的現有裝置，適用性通常限於<50nm的孔尺寸。 在本研究中，我們介紹了兩種高摩爾質量碳氫化合物吸附劑，即乙苯和正壬烷。 這些吸附劑在提高物理吸附測量的精確度方面表現出巨大的潛力，超出介孔性(即，＞50nm)。 具體來說，對於正壬烷，適用性可擴展至 80 nm 孔徑。 我們的測量指南提出了一種非破壞性、快速（<60 分鐘）、低壓（<0.03 bar）的方法來研究奈米多孔薄膜，該薄膜具有對不同結構系統的潛在適應性。