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透過光電導衰減和自由載子吸收測量進行載子壽命分析
發表於:
J. Electrochem. Soc.148 2001) 11, p. G655.-G661.
年:
2001
作者:
H-J. Schulze, A. Frohnmeyer, F.-J. Niedernostheide, F. Hille, P. Tüttő, T. Pavelka, G. Wachutka
Silicon (Si)
elemental semiconductors
carrier lifetime
photoconductivity
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