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使用非破壞性彈性材料探針 (EM-Probe) 測定超淺結 (USJ) 結構中的電活性表面摻雜劑密度
發表於:
Ultra Shallow Junctions 2005, Daytona Beach, Florida
年:
2005
作者:
R.J. Hillard, M.V. Benjamin, W.C. Ye, J.O. Borland