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µ-PCD 和 SPV 技術聯合應用測定複合中心參數
發表於:
Proceedings of the Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials and Devices, 1999 Joint Int. Meeting, 196)
年:
1999
作者:
T. Pavelka, A. Tóth, G. Bayer
recombination center
Microwave Photoconductive Decay (μ-PCD)
surface photovoltage
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