透過壽命測量識別 p 型矽中金屬雜質的可能性

發表於: J. Electrochem. Soc., 143, No. 1, 216-220

年: 1996

作者: T.S. Horányi, P. Tüttő, Cs. Kovacsics

oxidationSilicon (Si)temperaturenitrogen compoundsoxygen compoundsquartzsurface treatment

歡迎洽詢產品資訊與報價

針對您的研究需求，提供專業諮詢與客製化解決方案