使用光控加熱在高溫下記錄隱含 J-V 曲線

儘管太陽能板的工作溫度可以達到 60 °C，但太陽能電池的載流子壽命表徵通常在室溫下進行。 我們實現了一種在光引起的高溫下進行雷射控制光電導衰減 (PCD) 測量的裝置。 我們使用這種技術研究了來自同一晶錠多個部分的前體 p-PERC 電池。 根據與注入程度相關的載子壽命結果，還可以評估隱含的電流-電壓特性。 我們觀察到，當所有樣品的溫度從 30°C 升高到 60°C 時，載子壽命相對較小但顯著增加了 30%。 使用凱恩-斯旺森方法獲得的飽和電流值表明，不僅體壽命提高，而且表面複合率減弱。 隱含電池效率的溫度係數值約為 -0.35 rel%/°C，略低於該值，與電氣測試的典型結果一致。 然而，由於載子壽命略有增加，這仍然略高於純粹考慮在較高溫度下本徵載子濃度增加導致的已知開路電壓下降的情況下理論上可以獲得的值。