改進的 QSS-μPCD 測量與衰減控製品質：與穩態載子壽命的相關性

過量載流子光電導衰減壽命是在穩態發電施加的小擾動條件下測量的，為準穩態光電導 QSSPC 提供了一種有吸引力且無參數的替代方案。 該技術的最新版本稱為 QSS-μPCD，基於微波反射 PCD 監測。 對於這項技術，在大範圍的穩態光強度內保持單指數衰減至關重要。 為了實現這一目標，我們推出了具有嚴格的衰變品質控制 (QDC) 的 QSS-μPCD。 衰減參數 QD（理想情況下 QD=1）的質量測量偏離理想指數瞬態的方向和幅度，並能夠調整實驗變量的最佳範圍（取決於設備和晶圓），其中 QD 在 1±Δ 範圍內，其中 Δ 定義 QDC 限制。 在 QDC 限制內，小擾動有效衰變壽命 τ_eff.d 能夠準確地確定重要的矽酮光伏參數，最多約 25 個太陽，包括 τ_eff.ss。 比較兩個 J₀ 過程。 Basore 與 Hansen (1990) 所採用的巧妙的分析程序[2]能夠直接測定J0。第二個 J₀ 過程使用 τ_eff.d 照明強度的積分。結果是自洽的，並且與 Sinton QSSPC 結果具有良好的相關性。