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介紹了一種快速、非破壞性、非接觸式、免製備的測量方法，能夠區分硼和鎵摻雜的光伏矽塊狀原料（塊狀、錠狀或不規則形狀的材料塊）。 此方法由高注入少數載子壽命測量和高強度雷射治療組成。 微波光電導衰減方法被用作高注入載子壽命測量。硼或鎵摻雜劑種類可以根據所應用的雷射處理序列引起的載流子壽命變化的極性來確定。 所有摻硼樣品都顯示出負載流子壽命變化，而雷射處理則增加了大多數摻鎵樣品的壽命。 硼摻雜矽的負壽命變化是由硼氧LID缺陷的形成引起的。 研究發現，鐵受體對的解離是鎵摻雜樣本壽命增加的原因。詳細討論了雷射處理引起的壽命變化的動態，發現鐵鎵對的光學解離比鐵硼對的情況慢得多，而光誘導降解則顯示出預期的動態。關鍵字：鎵摻雜，光誘導降解，鐵受體對，載子壽命