非均勻電荷載子深度剖面的渦流測量建模

我們將兩種主要的光電導衰減 (PCD) 載子壽命測量方法整合在一個裝置中。 它能夠以注入水平 Δ𝑛 的函數記錄實際載子壽命 𝜏𝑎 和微分壽命 𝜏𝑑。 兩種方法優勢互補。 雖然瞬態 PC 是一種非常快速的測量，不受給定樣品的光學特性的影響，但 SP 方法對感測器校準問題、導電層不敏感，並且不依賴載流子遷移率模型。 為了獲得適當的測量條件，測量裝置的所有參數都經過最佳化，旨在對性能不斷提高的現代太陽能電池結構進行準確的載流子壽命測量。 此光學元件旨在提供大面積、非常均勻的穩態和脈衝光束光斑，以避免橫向擴散效應。 對兩種評估方法進行了嚴格審查，並透過電腦模擬研究了橫向​​擴散引起的系統誤差的影響。 使用最佳化的整合設定和校正的評估方法，發現重新編碼的𝜏𝑎（Δ𝑛）曲線之間一致，這證實了報告值的準確性以及使用該設定測量𝜏𝑎的可靠性。