高精度測量矽片中少數載子擴散長度和表面複合速度的新型表面光電壓（SPV）方法

發表於: Proceedings of ALTECH 95, vol. 95-30, pp. 73-82

年: 1995

作者: V. Faifer, P. Edelman, A. Kontkiewicz, J. Lagowski, A. Hoff, V. Dyukov, A. Pravdivtsev, I. Kornienko

surface photovoltageMinority Carrier Diffusion Lengthsurface recombination velocitySilicon (Si)

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