先進鈍化電介質中 PID 敏感性和界面陷阱密度的監測技術

發表於: China SoG Silicon and PV Power Conference, June 2013, Suzhou, China

年: 2013

作者: M. Wilson, A. Findlay, J. Lagowski, J. D’Amico, A. Savtchouk

passivation dielectricinterface trap densityPID susceptibility

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