microPL, JPV, photo-modulated reflectance2023
离子沟道和共注入对 Si 中离子范围和损伤的影响:使用 PL、SRP、SIMS 和 MC 模型的研究
作者: Samu Viktor, Kerekes Árpád, Pongrácz Anita, Durkó Zsolt
主题: microPL; JPV; photo-modulated reflectance
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SRP-170 是一款极具性价比的扩展电阻分析仪,专为硅半导体掺杂浓度与电阻率剖面分析而设计。该系统是高校、研究院所以及小批量分析实验室的理想选择,通过手动装料与专业引导操作提供可靠的性能表现。此外,设备还随附一套用于实验室内自制样品的制样套件。
SRP-170 扩展电阻分析仪
作者: Samu Viktor, Kerekes Árpád, Pongrácz Anita, Durkó Zsolt
主题: microPL; JPV; photo-modulated reflectance
作者: E. E. Najbauer, L. Sinkó, Sz. Biró, Z. Durkó, P. Basa
主题: carrier density; epitaxial layer; semiconductor; Silicon (Si); SRP-2100; SRP; FTIR REFLECTOMETRY
SRP-170 扩展电阻分析仪