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通过光电导衰减和自由载流子吸收测量进行载流子寿命分析
发布到:
J. Electrochem. Soc.148 2001) 11, p. G655.-G661.
年:
2001
作者:
H-J. Schulze, A. Frohnmeyer, F.-J. Niedernostheide, F. Hille, P. Tüttő, T. Pavelka, G. Wachutka
Silicon (Si)
elemental semiconductors
carrier lifetime
photoconductivity
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