大面积薄膜光伏材料的综合电学和光学表征

在薄膜光伏制造中，许多不同的技术现已在工业规模上使用：硅基薄膜、CIS/CIGS 基薄膜、CdTe 基薄膜以及其他更奇特的材料和结构。 在研究和生产控制过程中，都需要合适的表征方法，可以直接应用于生产中的面板。 在本文中，我们提出了一系列适合此类薄膜表征的先进电气和光学计量技术。 这些测量利用许多非接触式、非破坏性探针来确定材料特性，并且可以在单个灵活平台中进行配置，以处理薄膜生产中使用的大面积基板。 我们还展示了在光谱分辨雾度和透射率测量方面取得的重大改进，其中改进是创建了具有合适积分球的光学装置，无需在实际样品鉴定之前通常需要测量参考样品即可进行这些测量，从而保持了积分球的优点，但减少了通常的测量时间。