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展现 AFM 的力量：提升表面表征！
技术领域在不断发展。 晶体管是现代电子产品的组成部分，尺寸已经缩小到纳米级，因此可以将数十亿个晶体管堆叠到我们的日常设备中。
由于这一趋势，行业对设备的缺陷和缺陷变得更加敏感，使得缺陷检测和表面表征现在比以往任何时候都更加重要。
凭借其高分辨率非光学成像技术，原子力显微镜 (AFM) 改变了表面分析。 在 Semilab，我们提供尖端的 Semilab AFM 产品系列，为表面表征提供原子精度。 AFM 扫描仪可确保稳定性和扫描速率，从而实现纳米级材料的高质量粗糙度控制和缺陷分析。
AFM 改变游戏规则的应用程序包括粗糙度检查和缺陷检查以及可选的 µPIT 集成。 通过 3D 表面图像分析粗糙度特征可以更好地控制 CMP 和 EPI 成分等工艺。 µPIT 和 AFM 相结合，可实现精确缺陷检测和表征，从而获得宝贵的质量控制见解。
Semilab AFM 系统将尖端技术和数十年的专业知识相结合，在用户友好的环境中提供稳定、准确的性能。 它们可以通过手动或机器人加载选项无缝集成到您的工作流程中，也可以用于研发目的。
通过 Semilab AFM 产品系列释放 AFM 的真正潜力，提高您对材料的理解，以实现卓越的研究和制造，并了解最新产品 AFM-3000：
