Ballistic Electron Emission Microscopy of Schottky Diodes on RF-Plasma-Treated Silicon
作者: L. Quattropani, K. Solt, P. Niedermann, I. Maggio-Aprile, O. Fischer, T. Pavelka
主题: Schottky diode; RF plasma treated silicon

AFM-2000 是 Semilab 推出的高端原子力显微镜,可为学术研究和半导体工业应用提供高分辨率、亚原子级的精密测量。该设备非常适合表面粗糙度分析与关键尺寸控制,具备 200 × 250 mm 的大行程样品台和全自动操作功能,是研发设计与工业质量控制的理想选择。
AFM-2000 原子力显微镜
作者: L. Quattropani, K. Solt, P. Niedermann, I. Maggio-Aprile, O. Fischer, T. Pavelka
主题: Schottky diode; RF plasma treated silicon
作者: Katalin Csonti, Csilla Fazakas, Kinga Molnár, Imola Wilhelm, István A. Krizbai, Attila G. Végh
主题: adhesion assay; Zeiss AFM; single-cell force spectroscopy
作者: D. Marinskiy, P. Edelman, A.D. Snider
主题: Kelvin force microscopy; corona charge; concentration profile; surface diffusion
作者: Dmitriy Marinskiy, Patrick Polakowski, Jacek Lagowski, Marshall Wilson, Piotr Edelman, Johannes Müller
主题: corona - Kelvin; Non-Contact Measurement; THIN FILM CHARACTERIZATION
作者: P.M. Nagy, D. Aranyi, P. Horváth, G. Pető, E. Kálmán
主题: nanoindentation; Ion Implantation; mechanical properties; AFM
AFM-2000 原子力显微镜