AFM-1000 原子間力顕微鏡

SemilabのAFM-1000は、学術研究と半導体産業の両方に対応する汎用性の高い原子間力顕微鏡です。このコンパクトなシステムは、高分解能かつサブ原子レベルの精度で、極めて低いノイズレベルでの測定を提供し、最大65×65 mmのさまざまなサンプルに対するナノトポグラフィ測定および電気特性評価に最適です。

最先端技術と数十年にわたるノウハウにより、Semilabの卓上型AFMシステムは、半導体産業標準に基づく顕微鏡測定ソリューションを学術研究向けに提供します。