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광전도 감쇠 및 자유 전하 흡수 측정을 이용한 캐리어 수명 분석
게시 위치:
J. Electrochem. Soc.148 2001) 11, p. G655.-G661.
년도:
2001
저자:
H-J. Schulze, A. Frohnmeyer, F.-J. Niedernostheide, F. Hille, P. Tüttő, T. Pavelka, G. Wachutka
Silicon (Si)
elemental semiconductors
carrier lifetime
photoconductivity
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