최신 결정질 Si 태양전지 제조 라인의 자동화 수준과 처리량이 증가함에 따라 해당 공정 장비에 직접 통합된 품질 관리(QC)에 대한 관심이 높아지고 있습니다. 인 확산 단계의 주요 QC 파라미터는 수동으로 채취한 시료를 기반으로 일반적으로 측정되는 이미터 시트 저항입니다. 이에 반해, 본 연구에서는 대량 생산용 확산 장비에 직접 통합할 수 있는 측정 방법의 개발 및 평가를 목표로 하였습니다. 와전류 기술과 SPV(표면-광-전압) 프로빙을 기반으로 새로 개발된 시스템이라는 두 가지 비접촉식 접근 방식이 연구되었습니다. 기준 측정 기술로는 4점 프로브 FPP가 사용되었습니다. 그 결과 신규 SPV 방식은 이미 30 MW급 셀 생산 라인에 적용되어 있으며, 오프라인 FPP와 동일한 수준의 정확도를 제공하는 것으로 확인된 반면, 와전류 기법은 적용이 어려운 것으로 나타났습니다.