
전하 캐리어 재결합 수명(τc)에 대한 이해는 페로브스카이트와 같은 광전 소재의 다양한 응용에 필수적입니다. 무기 페로브스카이트 CsPbBr3에 대한 연구에서는 200 K 이하에서 1 ms를 초과하는 재결합 동역학과 상온에서 약 100 μs에 근접하는 τc가 확인되었습니다. 주입 의존성과 함께 시간 분해 마이크로파 검출 광전도 감쇠 측정을 활용한 결과, τc는 불순물 전하 트래핑에 의해 지배되는 것으로 나타났습니다. 관찰된 주입 의존성은 트랩 메커니즘 모델링과 잘 일치합니다. 초장 수명 감쇠 시간은 약 1 Sun 조사 조건에 해당하는 연속파 여기 기반 광전도 측정 결과와도 일관성을 보입니다. 전하 캐리어 트래핑은 단일 접합 소자의 광전 효율을 이론적으로 제한할 수 있지만, 탠덤 셀에서는 효율 향상에 기여할 수 있으며, 광검출, 광촉매, 양자 정보 저장과 같은 응용에도 활용될 수 있습니다.