n형 실리콘에서 캐리어 재결합 수명의 온도 의존성

게시 위치: Proceedings of the International Semiconductor Device Research Symposium (Charlottesville 1999), pp. 539-542

년도: 1999

저자: A. Frohnmeyer, F.-J. Niedernostheide, H.-J. Schulze, P. Tüttő, T. Pavelka, G. Wachutka