COREMA-2000 非接觸式電阻率分布量測儀

COREMA-2000系列提供精確、非破壞性且非接觸式的電阻率量測解決方案，主要專為碳化矽 (SiC)、氮化鎵 (GaN)、砷化鎵 (GaAs)、碲化鎘 (CdTe)、氧化鎵 (GaO) 與磷化銦 (InP) 等半絕緣化合物半導體所設計。其具備高精確度與高重複性，可完美支援研究單位與工業半導體製造環境。