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The authors present a fast and contact-free method to map the effective minority carrier lifetime /spl tau//sub eff/ of silicon solar cell wafers at a high spatial resolution.紅外熱像儀測量引起的自由光流子。 單一相機測量產生了過量少數載流子的面密度圖，作者將其轉換為有效少數載子壽命 /spl tau//sub eff/ 的圖。 紅外線測量結果與現有技術的結果一致，例如微波檢測光電導衰減和準穩態光電導壽命測量。 新穎的紅外線壽命映射技術對於在線製程控制來說足夠快。
