IEEE Photovoltaic Specialists Conference, IEEE NewYork 2000.) p 99.2000
透過紅外線相機繪製矽片的壽命圖
作者: M. Bail, J. Kentsch, R. Brendel, M. Schulz
主題: carrier lifetime; infrared camera
閱讀文獻

PP-1006 專為半導體晶圓、薄膜及太陽能電池中電阻率、射極片電阻與摻雜濃度的精確量測而設計,其採用的六電極接觸式探針能有效消除接觸電阻的影響。本設備完全符合太陽能光電產業標準,是半導體研發領域的理想選擇。
FPP-1006 四探針量測儀