
我们首次成功地将瞬态、稳态和小扰动光电导衰减寿命测量方法结合到一个系统中。 三种操作模式相辅相成,提高了每次测量的准确性,有效弥补了每种模式的局限性。 目标是在现代硅太阳能电池感兴趣的整个照明强度范围内,提供非常准确的载流子寿命τ结果,作为注入水平 Δn的函数。 这三种方法的结合不仅可以提高准确性的无迁移率模型 τ(Δn) 数据,而且还提供了作为 Δn 函数的多余载体迁移率的总和。 这在高注入水平下非常重要,现代太阳能电池在高注入水平下运行,但文献中的迁移率模型表现出显着差异。
为此目的开发的实验装置利用涡流光电导传感器和激光器来进行精确的光控制。 保持此类测量的稳定温度是一项挑战,通过应用智能激光控制和先进的通风可以克服。 测量结果在三种根本不同的模式下确定的 τ(Δn) 值取得了极好的一致性,并提供了接近先前提出的迁移率模型的迁移率值。