제품 정보 및 가격 문의
연구 요구에 맞춘 전문가 상담과 맞춤형 솔루션을 받아보세요
본 논문에서는 반도체 다이오드의 공간 전하 영역에서 심부 트랩으로부터의 열 방출과 동시에 Debye 테일 영역으로부터 캐리어의 재포획이 발생할 때의 영향을 다룹니다. 해당 과정은 전기장 의존 열 방출 특성 분석에서 중요한 요소임을 DLTS 측정을 통해 입증합니다. 또한 재포획 메커니즘을 고려하지 않을 경우 해석 오류가 발생할 수 있음을 보입니다.
