MCV-530 (L) 汞探針系統

MCV-530 系列採用獨家汞探針電容—電壓技術，專為介電層及半導體磊晶層提供非破壞性且高精度的特性分析。本系統深受全球領先半導體製造商與研發中心的信賴，能提供可靠的電阻率剖面分析、介電特性分析及界面分析。