橢圓孔徑法研究介孔二氧化矽材料的內部潤濕性

二氧化矽基介孔薄膜因其獨特的性能（例如高表面積、可控的孔隙率以及合成的簡便性和可定制性）而被廣泛應用於先進功能材料的製造，例如抗反射塗層、生物和化學感測裝置。 準確了解其孔隙結構至關重要，這凸顯了對準確表徵工具的需求。 從這個意義上說，橢圓孔隙率測定法代表了一個強大且多功能的表徵平台，可以獲得有關各種介孔薄膜的總孔隙率、孔徑、孔徑分散性、機械性能（楊氏模量）和表面積的可靠資訊。

雖然透過開爾文方程式模擬毛細管冷凝的基本框架已經建立，但一個描述符，介孔結構的內部潤濕性仍然是一個具有挑戰性的變數用於可靠的材料表徵。 奈米尺度的潤濕無法透過傳統的液滴形狀方法觀察到，而透過宏觀特性近似內部潤濕可能不準確，因為兩種潤濕行為不一定相關。 在此，我們提出了一種基於真空橢圓孔隙度測定法的方法，用於測定功能化介孔二氧化矽薄膜的內接觸角。 透過甲基官能化調節已知介孔結構的表面能，使我們能夠將各種吸附劑（水、甲醇、甲苯、環己烷）的孔填充差異與其內接觸角聯繫起來。 我們的研究可作為適用於各種有機吸附劑和介孔吸附劑材料的廣義內接觸角測定的指南。

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