inSE-1000 光譜式橢圓偏振儀

這是一款高效能、非接觸且非破壞性的光學量測工具，能針對單層及多層膜結構，提供精確的薄膜厚度與光學常數量測。本設備專為研發實驗室、大學以及半導體、太陽能光電與光學產業而設計，支援高階建模、分佈圖繪製及即時數據視覺化功能。