Applied Surface Science,70/71, 391-3951993
射頻等離子體處理矽上肖特基二極體的彈道電子發射顯微鏡
作者: L. Quattropani, K. Solt, P. Niedermann, I. Maggio-Aprile, O. Fischer, T. Pavelka
主題: Schottky diode; RF plasma treated silicon
閱讀文獻
歡迎洽詢產品資訊與報價
針對您的研究需求，提供專業諮詢與客製化解決方案
AFM-2000 是 Semilab 的高階原子力顯微鏡，能為學術研究與半導體產業應用提供高解析度、次原子級精度的量測。該設備非常適合用於表面粗糙度與關鍵尺寸的控制，其具備 200 × 250 mm 的大型樣品載台移動範圍與全自動化功能，為研發 (R&D) 與工業品質管制的理想選擇。
AFM-2000 原子力顯微鏡
作者: L. Quattropani, K. Solt, P. Niedermann, I. Maggio-Aprile, O. Fischer, T. Pavelka
主題: Schottky diode; RF plasma treated silicon
作者: Katalin Csonti, Csilla Fazakas, Kinga Molnár, Imola Wilhelm, István A. Krizbai, Attila G. Végh
主題: adhesion assay; Zeiss AFM; single-cell force spectroscopy
作者: D. Marinskiy, P. Edelman, A.D. Snider
主題: Kelvin force microscopy; corona charge; concentration profile; surface diffusion
作者: Dmitriy Marinskiy, Patrick Polakowski, Jacek Lagowski, Marshall Wilson, Piotr Edelman, Johannes Müller
主題: corona - Kelvin; Non-Contact Measurement; THIN FILM CHARACTERIZATION
作者: P.M. Nagy, D. Aranyi, P. Horváth, G. Pető, E. Kálmán
主題: nanoindentation; Ion Implantation; mechanical properties; AFM
AFM-2000 原子力顯微鏡
