inSE-1000 分光エリプソメトリー

この高性能な非接触・非破壊光学計測ツールは、単層および多層構造にわたる薄膜の膜厚と光学定数の精密測定を提供します。R&D研究室、大学、半導体・太陽光発電・光学などの産業向けに設計されており、高度なモデリング、マッピング、リアルタイムデータ可視化をサポートします。