inSE-1000 光谱椭偏仪

这款高性能、非接触且无损的光学计量工具，能够对单层及多层结构的薄膜厚度和光学常数进行精确测量。该设备专为研发实验室、高校以及半导体、光伏和光学等行业设计，支持高级建模、扫描成像以及实时数据可视化。